本/雑誌
ナノ計測-電子線・光・プローブ技術を用い (シリーズ:未来を創るナノ・サイエンス)
重川秀実/編著 吉村雅満/共著 目良裕/共著 岡嶋孝治/共著
4950円
| ポイント | 1% (49p) |
|---|---|
| 発売日 | 2020年08月発売 |
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収録内容
| 1 | 第1章 序論(ナノテクノロジーとナノ計測 |
| 2 | ナノ構造と物性 |
| 3 | 計測とは) |
| 4 | 第2章 電子線と光を用いたナノ計測・評価法(電子線を用いる方法 |
| 5 | 光を用いる方法) |
| 6 | 第3章 プローブ顕微鏡を用いる方法と応用(プローブ顕微鏡法を用いたナノ計測・評価法 |
| 7 | 太陽電池材料、pn接合の局所評価 |
| 8 | 単一分子の伝導計測 |
| 9 | 分子間力測定 |
| 10 | 細胞力学診断 |
| 11 | 固液界面 |
| 12 | STM発光分光法) |
