本/雑誌
表面分析 (分析化学実技シリーズ 応用分析編 1)
石田英之/著 吉川正信/著 中川善嗣/著 宮田洋明/著 加連明也/著 萬尚樹/著
3190円
| ポイント | 1% (31p) |
|---|---|
| 発売日 | 2011/08/27 発売 |
| 出荷目安 | メーカー在庫あり:1-3日
※出荷目安について |
- 追跡可能メール便 送料無料
関連記事
収録内容
| 1 | 1 表面分析序論(表面分析の目的・背景 |
| 2 | 表面分析の手法 ほか) |
| 3 | 2 赤外・ラマン分光法(赤外分光法を用いた表面分析方法の原理と特徴 |
| 4 | ラマン分光法を用いた表面分析方法の原理と特徴 ほか) |
| 5 | 3 X線光電子分光法(XPS、ESCA)(XPSの原理と特徴 |
| 6 | XPS装置 ほか) |
| 7 | 4 二次イオン質量分析法(SIMS)(SIMSの原理と特徴 |
| 8 | SIMSの装置 ほか) |
| 9 | 5 番行時間型二次イオン質量分析法(TOF‐SIMS |
| 10 | Static SIMS)(TOF‐SIMSの原理と特徴 |
| 11 | TOF‐SIMSの装置 ほか) |
| 12 | 付録 主な元素の化学シフト |
