本/雑誌
土壌環境中の有害元素の挙動 放射光源X線吸収分光法による分子スケールスペシエーション
日本土壌肥料学会/編
3080円
| ポイント | 1% (30p) |
|---|---|
| 発売日 | 2012/11/28 発売 |
| 出荷目安 | メーカー在庫見込あり:1-3週間
※出荷目安について |
- 追跡可能メール便 送料無料
著者・出版社・関連アーティスト
関連記事
収録内容
| 1 | 1 土壌元素の分析ツールとしてのシンクロトロン放射光源X線分光法―特徴・測定方法、将来展望 |
| 2 | 2 水田土壌の酸化還元過程におけるヒ素と鉄の動態をXAFS法で探る |
| 3 | 3 XANESとHPLC‐ICP‐MSを用いた水‐土壌系でのヨウ素の挙動解析 |
| 4 | 4 XAFS法を駆使した土壌中の有害元素の挙動解明 |
| 5 | 5 射撃場汚染土壌に含まれる鉛の不溶化とXAFSによる化学状態分析 |
