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X線・中性子による構造解析
大橋裕二/編著 植草秀裕/〔ほか〕著
4840円
| ポイント | 1% (48p) |
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| 発売日 | 2015年12月発売 |
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収録内容
| 1 | 結晶の周期性とX線 |
| 2 | 結晶とその対称性 |
| 3 | X線の回折と電子密度 |
| 4 | 回折強度の対称性と消滅則:空間群の判定 |
| 5 | 回折強度と構造因子 |
| 6 | 構造因子の位相の決定 |
| 7 | 構造の精密化 |
| 8 | 実際の構造解析:解析ソフトウェアの取扱いとCIFファイル |
| 9 | 解析結果の整理 |
| 10 | 中性子構造解析 |
| 11 | 粉末構造解析 |
| 12 | 薄膜の構造解析 |
