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本/雑誌

高分子分析技術最前線 (高分子先端材料One Point 別巻)

高分子学会 編集

1870円
ポイント 1% (18p)
発売日 2007/12/28 発売
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仕様

商品番号NEOBK-456162
JAN/ISBN 9784320043794
メディア 本/雑誌
販売共立出版
ページ数 179

著者・出版社・関連アーティスト

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    収録内容

    1 第1部 微小構造の顕微鏡観察(三次元透過型電子顕微鏡-ネットワークナノ構造の三次元可視化
    2 走査フォース顕微鏡-表面ナノ構造と物性をみる手法
    3 表面プラズモン共鳴分光法および顕微鏡-局所場による高感度光計測
    4 近接場光学顕微鏡-光でみるナノの世界
    5 共焦点レーザー顕微鏡-光学顕微鏡による三次元構造観察)
    6 第2部 微小構造の間接的観察(放射光を用いた観察法-微細・微小・迅速・in situ測定を目指して
    7 中性子小角散乱法-生きたままをみる分析技術
    8 陽電子消滅法-自由体積空孔サイズの測定)
    9 第3部 分子構造の解析(固体NMR-固体でここまでわかる精密測定
    10 TOF‐SIMS-サブミクロン領域からの分子構造情報
    11 MALDI‐MS/MS-質量測定を越えた微細化学構造解析
    12 赤外円二色性スペクトル-紫外・可視発色団を必要としない新しいキラル分析法)

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